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超聲波測厚儀根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精度測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。
產品型號：leeb332廠商性質：經銷商更新時間：2020-07-15瀏覽次數(shù)：1041
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超聲波測厚儀
型號： leeb332
儀器資料：
超聲波測厚儀根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精度測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。
技術參數(shù)
項目名稱 | Leeb332 |
示值誤差 | ±（1%H+0.1）mm H為被測物體實際厚度 |
測量范圍 | 0.75~350mm（鋼，由探頭決定，標配探頭范圍1~250mm） |
顯示分辨率 | 0.01mm |
聲速范圍 | 1000~9999m/s |
存儲 | 2000組 |
使用環(huán)境 | -10~60℃（非高溫探頭） -10~300℃（高溫探頭） |
PC通訊 | 有 |
電源 | AA型堿性電池2節(jié) |
工作時間 | 100小時 |
殼體材料 | 金屬外殼 |
外形尺寸 | 130*70*25 mm |
重量 | 450g |
標準配置 | 主機、L51探頭、堿性電池2節(jié)、耦合劑 |
可選配件 | 各類探頭、耦合劑、打印紙 |
| 類型 | 型號 | 名稱 | 頻率（MHz） | 探頭直徑 | 測量范圍 | 小管徑 | 特性描述 |
| 標準探頭 | L58 | 5P10/90 | 5 | 10mm | 0.8～200 mm（鋼） | Φ20mm×3.0mm | 常溫使用（＜60℃） |
| 標準探頭 | L51 | 5P10 | 5 | 10mm | 1.0～250 mm（鋼） | Φ20mm×3.0mm | 常溫使用（＜60℃） |
| 微徑探頭 | L77 | 7P6 | 7 | 6mm | 0.7～50 mm（鋼） | Φ15mm×2.0mm | 薄壁及小弧面測量， 常溫使用（＜60℃） |
| 粗晶探頭 | LZ2 | SZ2.5P | 2 | 22mm | 2.5～350 mm（鋼） | Φ20mm | 鑄鐵等粗晶材質測量， 常溫使用（＜60℃） |
| 高溫探頭 | LG5 | 5 | 14mm | 2～100 mm（鋼） | Φ30mm | 可用于高溫度材料的測量 （＜300℃） |
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